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摘 要:本发明公开了一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法。本发明是根据干涉仪输出光谱中参考波长位置处的目标自由光谱范围的大小、阶次与被测折射率的关系,跟踪指定阶次目标干涉谷的波长漂移位置,利用目标干涉谷波长与折射率的关系式计算出开放腔内介质的折射率。本发明克服了现有方法测量范围小的不足,可以实现大折射率范围的测量。此外,由于本发明所观察的波长范围可以出现多个干涉谷,因此在实现大折射率测量范围的情况下,干涉仪的FSR可以较小,从而导致:干涉波谷变得尖锐,提高波谷位置判定的准确性;允许较大尺寸的开放腔,降低传感器的制作难度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810964412.5 | 专利名称: | 一种基于开放腔法珀干涉仪的折射率测量方法 |
申请日: | 2018-08-23 | 申请/专利权人 | 天津工业大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 天津市西青区宾水西道399号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/45搜分类 测量测绘 折射率测量 干搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2020/08/07 | 授权 | |
2019/01/01 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/45 专利申请号: 201810964412.5 申请日: 2018.08.23 |