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摘 要:本发明提供了一种LED芯片寿命快速估算方法,其包括有选两个样品、老化前初始反向电流的测量、高温下加快光通量衰减来进行老化测试、老化后反向电流的测量、和寿命的公式估算这几个步骤,这样通过施加反向电压来测得样品在光衰减前后的反向电流,再利用计算公式就可快速估算出LED芯片的寿命,从而缩短产品研发周期,为改善LED芯片寿命提供了更有力的保障,并能有效缩短LED芯片寿命估算时间,减小试验成本。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201410698501.1 | 专利名称: | 一种LED芯片寿命快速估算方法 |
申请日: | 2014-11-26 | 申请/专利权人 | 电子科技大学中山学院 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 广东省中山市石岐区学院路一号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R31/26搜分类 LED 集成电路 LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |