发明专利已授权

基于纵横转换放大细分的宏微复合光栅尺测量系统

📄 申请号：CN201410255806.5 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2014-06-10

申请人

广东工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_02

IPC 分类号

G01B11_02

技术画像

所属领域

光栅尺测量光栅尺测量位移测量精密测量系统

应用场景

精密机床, 半导体制造设备, 计量检测, 自动化制造, 微纳定位

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摘要

本发明涉及光学长度测量领域，具体涉及基于纵横转换放大细分的宏微复合光栅尺测量系统，基于纵横转换放大细分的宏微复合光栅尺测量系统，包括光栅尺、可相对光栅尺相对移动的宏微读数系统和计数及图像处理模块，宏微读数系统正对栅纹基面且与光栅尺平行放置,还包括测量参考直线，测量参考直线与图像传感器获取的栅纹在计数及图像处理模块中叠加形成叠加图像，测量参考直线与栅纹形成一定夹角θ。本发明通过以上结构，可以兼容现有增量式、绝对式等类型的光栅尺，适用性强，利用高速低精度光栅尺进行宏尺度位移测量，同时利用高效的微尺度读数模块基于机械光学细分技术来获取可靠的高精度微尺度位移值，适合于大栅距尺寸的光栅尺，成本较低。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20170111

✅ 授权

20140917

?? 实质审查的生效：

20140820

📄 公开

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：35 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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