发明专利已授权

可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置

Name: 可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置
Brand: 重庆邮电大学
SKU: 2018101142915
Availability: InStock

📄 申请号：CN201810114291.5 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2018-02-05

申请人

重庆邮电大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R27_02

IPC 分类号

G01R27_02 , G01L11_00 , G01R33_02 , G01R31_00 ,

技术画像

所属领域

测试装置磁敏传感器传感器测试技术磁场控制磁敏器件测试装置

应用场景

传感器研发, 半导体器件测试, 材料性能表征, 科学实验

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摘要

本发明公开了一种可控磁场下磁敏器件的压阻/剪阻性能的测试装置，其包括用于向待测器件施加压力/剪力的施力装置，用于为待测器件提供可控磁场的磁场发生装置，以及用于实时采集并存储施加在待测器件上的压力信息、磁场强度及其自身的电阻信息的信号采集装置，以及用于根据采集到的所述压力信息、磁场强度和电阻信息计算得到待测器件在不同磁场下的压阻/剪阻信息。该发明提出了一种新型力学传感器夹具设计方案，可以使压阻/剪阻的测试在同一台设备上进行；通过在装置中增加了磁场发生装置可对器件进行不同磁场下的压阻剪阻性能测试。

常见问题

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20210720

✅ 授权

20180904

?? 实质审查的生效：

20180810

📄 公开

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📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：32 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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