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摘 要:本发明请求保护一种回转窑表面双波段测温方法,属于信号处理技术领域。本发明在单波段定标原理的基础上,考虑回转窑现场测温环境,在双波段测温模型中引入了大气衰减系数,结合回转窑扫描测温原理,提出了一种基于回转窑的双波段测温模型。该方法包括,实验室定标分别得到中波扫描仪和长波热像仪测温系统的定标系数。通过回转窑扫描测温原理计算出扫描点距离,然后根据单波段测温原理,使用黑体分别测量出某个扫描点在该扫描距离下在两个波段范围内的大气透过率。将计算的大气透过率代入到双波段测温模型中,得到两个波段的测量比值,根据比值与温度关系反演出扫描点的温度值。本发明考虑了回转窑现场测温实际情况,测温精度高,具有较高应用价值。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810461889.1 | 专利名称: | 一种回转窑表面红外双波段测温方法 |
申请日: | 2018-05-15 | 申请/专利权人 | 重庆邮电大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 重庆市南岸区南山街道崇文路2号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J5/00搜分类 表 回转窑搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2020/03/17 | 授权 | |
2018/12/21 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01J 5/00 专利申请号: 201810461889.1 申请日: 2018.05.15 |
2018/11/27 | 公开 |