发明专利已授权

一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法

📄 申请号：CN201910406586.4 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2019-05-16

公开号

CN110187177A

公开日

2019-08-30

申请人

重庆邮电大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R23_17

IPC 分类号

G01R23_17 , G01M11_02 ,

技术画像

所属领域

测试装置光电子器件频率响应测试光电检测技术测试装置

应用场景

光通信设备测试, 光电子器件研发, 通信系统检测, 科研实验测试

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摘要

本发明请求保护一种多合一的光电子器件频率响应测试装置及方法。本发明由激光器、移频外差干涉模块、待测光电探测器和频谱分析模块组成，其中，移频外差干涉模块由待测电光调制器与移频器组成，且分别放置于干涉模块的马赫‑曾德上、下臂中，激光器、移频外差干涉模块和待测光电探测器依次光连接，微波信号源与待测电光调制器的输入电极端为电连接，待测光电探测器输出端与频谱分析模块为电连接；设置微波信号源在相同工作频率下的两次不同输出电压驱动的情况下，通过频谱分析模块，获得对应成分的功率比值，通过两次不同驱动下功率比值的比，实现对待测电光调制器的频率响应测试，进而反算出待测光电探测器频率响应，最终实现频率响应自校准测试。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20210910

✅ 授权

20190924

?? 实质审查的生效：

20190830

📄 公开

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