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摘 要:本发明提供一种透明材料三维表面及厚度分布同时检测系统,包括图像采集模块、深度传感器、面光源、参考面板、透明材料和控制单元;图像采集模块用于采集透明材料的偏振图像和深度图像并传送到控制单元;深度传感器用于采集透明材料的前后深度值;面光源用于发出非偏振白光照射透明材料;参考面板用于放置背景图案;控制单元包括基于偏振特性的法向量计算模块、基于深度传感器的法向量校正模块以及重构和检测模块;本发明能够对大面积大厚度透明材料进行三维表面检测,同时还能对大面积大厚度透明材料的整个表面厚度分布进行检测,检测系统具体结构简单、成本低以及能够实现对大面积大厚度透明材料无接触检测的特点。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202010999123.6 | 专利名称: | 一种透明材料三维表面及厚度分布同时检测系统及方法 |
申请日: | 2020-09-22 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/25搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
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日期 | 法律信息 | 备注 |