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摘 要:本发明公开了一种大数据的多密集块检测与提取方法,旨在解决现有技术中密集块检测方法存在的检测准确率和召回率低的技术问题。其包括:获取K维张量数据D、待提取密集块个数m和密集块尺寸范围;利用基于分段函数的密度跟踪系数对K维张量数据D进行可疑程度度量,并根据可疑程度和密集块尺寸范围生成snapshots列表;根据snapshots列表从K维张量数据D中提取m个密集块。本发明能够在保证检测效率的同时能够有效提高密集块的准确率和召回率。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202111406838.7 | 专利名称: | 一种大数据的多密集块检测与提取方法 |
申请日: | 2021-11-24 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | H04L9/40搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |