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摘 要:本发明公开一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度检测方法,包括:快速制备待测纳米颗粒样本;将所述样本置于原子力显微镜的真空吸盘上,沿样本的直径方向选择多个待测点,分别对所述待测点进行扫面及图像采集;分别统计各待测点图像中纳米颗粒个数,并绘制曲线图;将对称位置被测点的颗粒数目总数取平均值,重新绘制曲线图。根据新的曲线图的分布规律计算圆内的纳米颗粒浓度。本发明使用原子力显微镜(AFM)测量纳米颗粒,特别是未知浓度的纳米颗粒具有制样简单快速、原位测试、灵敏度高、不破坏样本等优点,能够最大限度同时测出未知样本的真实浓度、颗粒的粒径和表征、形态等参数。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910839493.0 | 专利名称: | 一种基于原子力显微镜的纳米颗粒浓度测量方法 |
申请日: | 2019-09-05 | 申请/专利权人 | 苏州大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省苏州市相城区济学路8号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N15/06搜分类 测量测绘 纳米材料 微 纳米颗粒搜索 |
公开/公告日: | 2022-03-22 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110426335B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/03/22 | 授权 | |
2019/12/03 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 15/06 专利申请号: 201910839493.0 申请日: 2019.09.05 |
2019/11/08 | 公开 |