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摘 要:本发明公开了一种基于平行激光线的带材宽度及中心测量系统,本发明还公开了一种基于平行激光线的带材宽度及中心测量方法,将面阵CCD固定,使平行激光线光源与带材垂直,面阵CCD通过检测平行激光线,获得带材边沿位置相关的信号,此信号经过外部高速A/D转换器,得到数字信号,然后通过FPGA处理器,对相关信号进行处理,将此信号再通过USB2.0传送到上位机中,最后将结果显示出来。本发明的系统和方法,具有检测精度高、稳定性好及设计结构简单的特点。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201310713294.8 | 专利名称: | 基于平行激光线的带材宽度及中心测量系统和方法 |
申请日: | 2013-12-20 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/00搜分类 激光搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |