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摘 要:本实用新型提供一种半导体检测用光学显微镜,包括底座结构;所述底座结构的前端处安装有调节结构,且调节结构上设置有平衡结构;所述平衡结构上设有观测台结构;所述底座结构上处安装有防护结构;所述底座结构包括立柱,所述固定座中间位置设置有立柱,且立柱横截面为矩形形状,调节台直接套接在垂直的立柱上,调节台末端处套接有电子显微镜,被检测的半导体属于较为精密的工件,在将工件夹紧时,所接触端不能够对工件造成损伤,从而将夹具处安装的压块设为橡胶接触面,实现保护工件的目的,同时夹具与压块之间为相互卡接且能够任意拆卸,使得夹具能够根据不同的情况安装不同形状的压块。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202021805256.7 | 专利名称: | 一种半导体检测用光学显微镜 |
申请日: | 2020-08-26 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 实用新型 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/95搜分类 半导体 微 微生物采样 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |