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摘 要:本发明公开了一种薄膜剖面图像的膜厚采集方法,基于薄膜测厚仪输出用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度图像,先根据区域特征获取含有目标曲线的ROI区域,在灰度化和滤波处理后,根据颜色分量和坐标特征获取该区域内的非连续膜厚曲线图像和辅助点阵图像;然后,对二副图像分别进行Otsu阈值分割和双阈值分割后得到二值图像,并将结果相合并生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线图像;最后,基于所获取的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值,对所生成膜厚曲线上每个点,将其在图像中的像素坐标变换为所对应的厚度值。本发明通过对薄膜剖面图像的处理,能准确获取薄膜剖面各点的厚度值,从而为薄膜横、纵向厚度的一致性控制提供了基础。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910845717.9 | 专利名称: | 一种薄膜剖面图像的膜厚采集方法 |
申请日: | 2017-05-28 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | B29D7/01搜分类 塑料搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |