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摘 要:本发明公开了一种基于莫尔条纹方程验证和调节光栅平行的方法,实施于基于莫尔层析技术检测流场的实验装置。首先,确定好该实验装置的两光栅的栅线方向与y轴的夹角分别为 ,计算出两光栅面平行时的标准条纹间距。实际操作中,如果接收屏上的莫尔条纹间距与标准间距不同,则说明两光栅面不平行,即表明光栅面与x轴面有一定夹角。这时,将光栅绕x轴转动,调节其条纹间距与标准间距一致,即表明光栅面平行了。本发明方法操作方便,实施成本低,且可有效的提高实验数据的准确度,对莫尔层析技术用于流场测量领域有着重要的意义。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202011631381.5 | 专利名称: | 一种基于莫尔条纹方程验证和调节光栅平行的方法 |
申请日: | 2020-12-30 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/02搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
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日期 | 法律信息 | 备注 |