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摘 要:本发明公开了实时测量Mueller矩阵光谱的系统,包括沿入射光线的入射方向依次设有光源、光纤、准直系统、起偏器、第一延迟器、第二延迟器、样品台、第三延迟器、Wollaston棱镜、光谱仪组。本发明还公开了实时测量Mueller矩阵光谱的方法,对光谱仪获取的光谱强度进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原被测样品表面出射的Stokes矢量S,对S中的四个Stokes参数进行傅里叶变换、通道滤波与傅里叶逆变换可复原出16个Mueller矩阵元素的光谱。本发明避免了通道串扰,测量准确性高,可操作性强。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201910899485.5 | 专利名称: | 实时测量Mueller矩阵光谱的系统及其测量方法 |
申请日: | 2019-09-23 | 申请/专利权人 | 西安理工大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 陕西省西安市碑林区金花南路5号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/21搜分类 测量测绘 R L LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 2022-07-01 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN110567883B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2022/07/01 | 授权 | |
2020/01/07 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01N 21/21 专利申请号: 201910899485.5 申请日: 2019.09.23 |
2019/12/13 | 公开 |