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摘 要:本发明公开了一种相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法具体包括如下步骤:步骤1,基于传感器子孔径阵列对光斑的辐照功率和响应电压特性,定义一个响应率参数R(i,j),作为参考变量;步骤2,根据步骤1中定义的响应率参数R(i,j),设置一个阈值T,判断并检测出焦平面的坏点,并将坏点处的响应率的值置零去除;步骤3,采用坏点周围的有效点信息对步骤2检测的坏点位置的信息进行插值预测和代替补偿;步骤4,重复执行步骤2~3,进行动态波前坏点去除与补偿,直到步骤2中设置的阈值范围内检测不到坏点,输出此时的光斑阵列图。采用本发明能够实现对坏点的有效去除与补偿,以减小AO系统的校正误差。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202110420356.0 | 专利名称: | 相干光通信波前校正中去除与补偿子孔径光斑坏点的方法 |
申请日: | 2021-04-19 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J9/00搜分类 通信搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |