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摘 要:本发明公开了一种单色光的干涉测量相位计算方法。所述移相干涉采用改变光程差获得不同相位差下的干涉图,利用移相算法,对物体的表面相位进行测量,所述单色光为单一波长的光,所述测量方法是采用时空移相与延拓技术结合的思想,对数帧移相载频干涉图进行延拓,使用时空移相方法求解相位,其在相位求解的步骤主要包括延拓干涉图、对延拓后的干涉图进行采样插值、通过二维离散傅里叶变换求解相位,该方法使用多幅干涉图恢复出物体的相位分布,计算结果对背景光强与调制度波动、移相误差等因素不敏感,且能适应振动环境下的图像处理等需求。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202210957586.5 | 专利名称: | 一种单色光的干涉测量相位计算方法 |
申请日: | 2022-08-10 | 申请/专利权人 | 苏州科技大学 |
专利类型: | 发明 | 地址: | 江苏省苏州市虎丘区学府路99号 |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01J9/02搜分类 光学仪器搜索 |
公开/公告日: | 2023-08-18 | 转让价格: | 面议 |
公开/公告号: | CN115307746B | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |