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摘 要:本发明可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统,包括成品膜卷检测传感器PH1(10)、可编程逻辑控制器PLC(11)、切换继电器K1(12),还包括两个分别对应于成品膜卷的张力调节电位器W1(1)、试样膜卷的张力调节电位器W2(2)、磁粉制动器驱动器(3)及两个分别用于成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5);本发明可自动完成适应试样膜卷及成品膜卷测试的张力调节及张力控制模式切换,又可以实现分别针对成品膜卷与试样膜卷张力需要实现无极调速,可以适应大小膜卷测试的需要。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810028344.1 | 专利名称: | 可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统 |
申请日: | 2018-01-12 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G05B19/05搜分类 塑料搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |