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摘 要:本发明公开一种贵金属纳米阵列消光光谱测量装置及其传感检测方法,其装置包括白光光源、光束提升器、显微组件、样品夹具、光信号采集器、光谱仪和计算机终端,白光光源发出的光束经光束提升器改变传播路径后入射至显微组件上,显微组件出射的聚焦光束入射至被测样品上,光信号采集器接收经被测样品透射的聚焦光束并传输给光谱仪,光谱仪输出光谱信号给计算机终端,计算机终端根据被测样品的消光光谱相对于贵金属纳米阵列的消光光谱的消光峰位置的变化,计算获得有机溶液的浓度;该装置能够对具有复杂结构、微米级尺寸大小的贵金属纳米阵列的消光光谱实现精确定位测量;利用该装置实现有机溶液浓度检测的过程简单,成本低,灵敏度高。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201711061973.6 | 专利名称: | 贵金属纳米阵列消光光谱测量装置及其传感检测方法 |
申请日: | 2017-11-02 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/01搜分类 测量测绘 纳米材料 传感 阵列 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |