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摘 要:本发明适用于光学、生物学、化学等领域,提供了一种超分辨荧光寿命成像方法,所述方法包括下述步骤:对标记于样品中的光开关染料分子进行稀疏激活;激发样品中被激活的光开关染料分子,收集被激发的光开关染料分子所发射的光子并记录光开关染料分子的荧光图像,对荧光图像中的光开关染料分子进行质心定位;对在质心定位处接收到的光子进行计数,确定被激发的光开关染料分子的荧光寿命;结合得到的光开关染料分子的质心定位结果和荧光寿命,构建超分辨荧光寿命图像。本发明将基于单分子定位的超分辨荧光显微技术和基于时间相关单光子计数的荧光寿命成像结合,实现超分辨荧光寿命成像,突破了传统的光学衍射极限限制,极具科学意义与应用价值。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201010551748.2 | 专利名称: | 一种超分辨荧光寿命成像系统 |
申请日: | 2010-11-19 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01N21/64搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |