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摘 要:本发明公开了一种基于S变换脊值的加权最小二乘相位展开的方法,包括以下步骤:向被测物体投射正弦条纹,采集由于所述被测物体的高度而发生变形的条纹图;通过基于滤波的S变换轮廓术得出分布在‑π到+π的包裹相位图和表示包裹相位质量的S变换脊值;将所述S变换脊值作为加权最小二乘法相位展开的权重值,并用预条件共轭梯度法将包裹相位展开得出绝对相位。本发明还提供一种基于S变换脊值的加权最小二乘相位展开的系统,包括:投影仪,相机和微处理器。本发明具有相位展开速度快,抗噪性强,求解精度高的优点,可广泛应用于条纹投影三维成像领域。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710342954.4 | 专利名称: | 基于S变换脊值的加权最小二乘相位展开的方法及系统 |
申请日: | 2017-05-16 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/25搜分类 其他搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2020/02/07 | 授权 | |
2017/08/29 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G01B 11/25 专利申请号: 201710342954.4 申请日: 2017.05.16 |
2017/08/04 | 公开 |