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摘 要:本发明公开了一种高斯噪声下提高稀疏孔径成像系统误差检测精度的方法。以相位差异法中两幅图像的对数似然函数为基础,求得关于稀疏孔径成像系统的Fisher矩阵,通过对Fisher矩阵求逆矩阵的迹和统计分析得到评价因子;通过改变外界参数如焦平面图像的离焦量、焦平面与离焦平面接受到的光子数比来计算相应的评价因子,评价因子的值越小表明相位差异法采用这些参数检测稀疏孔径成像系统误差的精度就越高。本发明提供的评价方法可为选择一种最佳的相位差异法参数配置提供依据,有效提高稀疏孔径成像系统误差检测精度。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201611009173.5 | 专利名称: | 一种高斯噪声下提高稀疏孔径成像系统误差检测精度的方法 |
申请日: | 2016-11-16 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01S7/497搜分类 噪声 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |