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摘 要:本发明属于光学精密测试领域,具体涉及一种倾斜波面干涉测量非球面中的参数确定方法。包括如下步骤:首先根据给定的非球面方程和口径,按角度等间隔划分非球面;然后设定入射球面波的中心,利用公式计算球面波的中心对于每个节点的镜像点;然后以镜像点向对应的节点坐标位置发射光线构成反射波面,根据计算出的反射波面与参考球面波之间的相位差的分布,判断出可测量干涉条纹的分布范围,移动球面波中心的位置,重复前述过程,直到整个非球面的范围都能够被测量,即确定了所有球面波源的位置,完成了点源阵列的设计。本方法的步骤清晰、计算准确、适用范围广,使用计算机程序可以快速完成设计,计算的过程中无须采用近似估计,计算结果准确。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201810108589.5 | 专利名称: | 倾斜波面干涉测量非球面中的参数确定方法 |
申请日: | 2018-02-02 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01B11/00搜分类 测量测绘 球 干搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |