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摘 要:本发明公开了一种柔性IC基板蚀刻显影工艺过程的在线监控方法中,步骤:收集工艺过程中正常的历史数据集X,归一化得到采用KPCA模型提取出的非线性主元矩阵T,对SVDD模型进行训练;非线性主元矩阵T中所有极限点构成极限点数据集;在线采集检测数据y,归一化得进行以下检测:由当前KPCA模型提取出的非线性主元z′,输入至当前SVDD模型计算统计量,判定出y是否正常;若正常,对当前KPCA模型进行更新,若正常且z′为极限点,则更新极限点数据集;由更新后的极限点数据集对当前SVDD模型进行训练;当下一次在线采集到检测数据时,归一化后重复执行上述检测。本发明能够实现快速且准确的在线监控。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710873080.5 | 专利名称: | 一种柔性IC基板蚀刻显影工艺过程的在线监控方法 |
申请日: | 2017-09-25 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G05B19/418搜分类 监视监控 工艺 过程 C IC IC基板 蚀刻搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |