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摘 要:本实用新型涉及一种核辐射测量装置,包括用于探测核辐射并产生高频脉冲信号的核辐射探测器、用于将高频脉冲信号整形为方波信号的调理电路、用于计量方波信号脉冲数目并通过公式计算出核辐射强度的单片机,以及用于显示核辐射强度的显示单元。单片机中集成有用于计量方波信号脉冲数目的计数电路。核辐射探测器、调理电路、单片机和显示单元依次相连,公式为:151CPM=1uSv/h,其中,CPM表示信号脉冲数目,uSv/h表示辐射强度。本实用新型的核辐射测量装置通过调理电路,将高频电脉冲信号整形为一个有固定脉宽、幅值受限的方波信号,便于计数电路计数脉冲次数,可使极其微小且不稳定的辐射粒子产生的脉冲得以捕捉,从而可更精确地测量出周围环境核辐射剂量。
著 录 项:
专利/申请号: | CN202020472200.8 | 专利名称: | 一种核辐射测量装置 |
申请日: | 2020-04-03 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 实用新型 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01T1/18搜分类 测量测绘搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
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日期 | 法律信息 | 备注 |