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摘 要:一种基于JY‑KPLS的复杂工业过程在线质量预测方法,利用联合Y变量的核偏最小二乘技术建立运行状态的离线质量预测模型、批次工业过程的在线质量预测,具体是先利用联合Y的核偏最小二乘法技术离线建立预测模型,在线获取决策点所有数据,采用均值填充方式对数据进行补充完整,利用预测模型对产品的质量进行预测。本发明能够有效克服新的生产过程数据少而无法建立预测模型的问题,能够加快建模速度,可以提高模型预测精度,实现模型自适应,可根据实时获得预测结果,现场操作人员就能及时调整生产策略,实现生产过程的实时优化,提高工厂的综合经济效益。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201611243467.4 | 专利名称: | 基于JY-KPLS的复杂工业过程在线质量预测方法 |
申请日: | 2016-12-29 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G05B19/418搜分类 过程 P L LED芯片搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |