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摘 要:本发明提出了一种基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法,可以实现测试数据的进一步压缩。其依次按位从测试数据包S中读取数据,根据相邻确定位向无关位填充0或1,以使所得游程的长度达到最大,并将测试数据包S转换为多个游程,然后依据相邻两个游程得到一组压缩编码并加入压缩数据包;所述的压缩编码依次由3部分组成:双游程代码、公约数代码、连分数代码;本发明还公开了对应的解码程序。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201710267075.X | 专利名称: | 基于连分数存储的集成电路测试数据压缩方法 |
申请日: | 2017-04-21 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G01R31/3183搜分类 电路 集成电路 数据压缩 电路测试搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
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专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
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专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |