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摘 要:本发明涉及一种陶瓷天线罩光透射扫描检测控制方法,采用以下步骤:1)定位激光测距图像采集头起点坐标位置;2)通过对焦测得扫描控制点的起始坐标位置;3)根据跟踪计算和等误差控制点选取的办法,确定天线罩扫描控制点的坐标位置和扫描入射角;4)根据各扫描控制点的扫描入射角,计算光源坐标移动位置;5)按直线点位运动控制方式,对扫描的路径、扫描入射角、光源位置进行扫描控制NC程序的编制;6)根据激光测距图像采集头的视角和扫描行中心截面的外缘曲线进行计算,编制圆周扫描的NC程序;7)控制激光测距图像采集头对天线罩进行图像采集并进行处理和分析,获得陶瓷天线罩的裂纹和质地疏松缺陷参数,用于质量判定。
著 录 项:
专利/申请号: | CN201210228841.9 | 专利名称: | 陶瓷天线罩光透射扫描检测控制方法 |
申请日: | 2012-07-03 | 申请/专利权人 | |
专利类型: | 发明 | 地址: | |
专利状态: | 已下证 查询审查信息 | 分类号: | G05B19/18搜分类 陶瓷 通信 测控 检测搜索 |
公开/公告日: | 转让价格: | 面议 | |
公开/公告号: | 交易状态: | 等待洽谈 搜索相似专利 |
交易方 | 企业 | 个人 |
买家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(签字) |
专利转让委托书(需盖公章)一式两份 | 专利转让委托书(需签字)一式两份 | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
卖家 | 营业执照副本复印件(需盖公章) | 身份证复印件(需申请人签字) |
解除代理委托书(需盖公章)一式两份(如专利通过代理机构申请) | 解除代理委托书(需签字)一式两份(如专利通过代理机构申请) | |
专利转让协议(需盖公章)一式两份 | 专利转让协议(需签字)一式两份 | |
专利请求书或手续合格通知书、授权通知书复印件 | 专利请求书或手续合格通知书、专利授权通知书复印件 | |
专利证原件(若授权下证) | 专利证原件(若授权下证) |
日期 | 法律信息 | 备注 |
2014/04/16 | 授权 | |
2012/12/12 | 实质审查的生效 | IPC(主分类): G05B 19/18 专利申请号: 201210228841.9 申请日: 2012.07.03 |
2012/10/24 | 公开 |