实用新型 已授权

一种硅片芯片测试用样品盒

📄 申请号:CN202421393859.9 📄 发布日:2026/09/16

著录项目信息

申请日
2024-06-18
公开号
CN222683058U
公开日
2025-03-28
申请人
鸣纳(上海)信息科技发展有限公司
法律状态
已下证
专利类型
实用新型
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

半导体芯片测试, 晶圆测试, 芯片封装测试, 实验室样品存储, 半导体运输载具

摘要

本实用新型公开了一种硅片芯片测试用样品盒,包括装置本体,所述装置本体包括第一样品卡盒和第二样品卡盒,所述第一样品卡和卡接在第一样品卡盒顶部;所述第一样品卡盒和第二样品卡盒均包括存储盒盘和存储柱,所述存储柱位于存储盒盘底部,所述存储盒盘和存储柱均为平滑过渡且一体加工成型结构,所述存储盒盘呈圆形结构,所述存储盒盘和存储柱顶部均开设有存储仓,所述存储仓呈圆柱状结构。该种装置可以对硅片芯片进行单独分隔存储,还可以对硅片芯片进行固定,防止硅片芯片出现移位损伤,从而大大保证了硅片芯片的安全性。

常见问题

这项专利是否已经下证?

是的,该专利已下证,法律状态为“已下证”,公开号: CN222683058U

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该专利的转让价格是多少?

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权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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