发明专利已授权

基于压电陶瓷的透射式相位显微成像测量系统

Name: 基于压电陶瓷的透射式相位显微成像测量系统
Brand: 桂林电子科技大学
SKU: 2019110919123
Availability: InStock

📄 申请号：CN201911091912.3 📄 发布日：2026/08/27

著录项目信息

申请日

2019-11-08

公开号

CN111025876A

公开日

2020-04-17

申请人

桂林电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G03H1_02

IPC 分类号

G03H1_02 , G03H1_04 , G03H1_22 , G01B9_021 , G03H1_00 ,

技术画像

所属领域

精密光学测量精密光学测量显微成像技术压电陶瓷驱动与定位

应用场景

生物医学显微观测, 材料表面检测, 精密测量仪器, 科研实验设备, 工业无损检测

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摘要

本发明提供的是一种基于压电陶瓷的透射式增强型相位显微成像测量系统。其特征是：它由激光光源1、光衰减片2、激光扩束镜3、压电陶瓷4、F-P干涉仪5、显微物镜6、探测相机7、计算机8组成。本发明可用于微小物体的数字全息和折射率测量，可广泛用于各种微小物体内部的折射率三维显微成像领域。

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

基于三芯光纤的并行Michelson集成式干涉仪

当前第 / 件

基于F-P干涉仪反射透射式相位显微成像测量系统

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