发明专利 已授权

一种用于测量介电常数的双边缘检测谐振电路

📄 申请号:CN202210202648.1 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2022-03-03
公开号
CN114705918B
公开日
2025-12-09
申请人
南京信息工程大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

介电材料测试, 电子元器件检测, 无损检测, 传感器应用, 工业过程控制

摘要

本发明涉及一种用于测量介电常数的双边缘检测谐振电路,包括电阻、电容、电感、交流电源、介电物质、数字万用表以及样品容器,所述介电物质放置在所述样品容器里,所述电容、电感、电阻串联连接,所述数字万用表接在电容两端,用于交流电压档测量电容两端交流信号的幅值,其中,所述谐振电路共两个,两个谐振电路的电容均处于样品容器中,所述样品容器可以加入介电物质、不加入介电物质或者加入不同介电常数的介质,所述电容值随不同介质的介电常数呈线性变化。通过对双边缘的检测,不仅可以一次性测出中心频率偏移的大小,同时也能测出偏移的方向,再根据谐振频率的计算公式,便可以得出加入样品后的电容值,从而间接计算出样品的介电常数。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01R27_26)

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