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发明专利
已授权
一种非厄米超表面及其构建方法
📄 申请号:CN202310752808.4
📄 发布日:2026/08/04
著录项目信息
申请日
2023-06-25
公开号
CN116565572B
公开日
2026-06-26
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
H01Q15_00
IPC 分类号
H01Q15_00
技术画像
所属领域
超表面
超表面
非厄米光学
微纳光学器件
应用场景
光场调控, 光学传感, 通信技术, 光学成像, 量子光学
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摘要
本发明提供了一种非厄米超表面及其构建方法,非厄米超表面包括复合层以及与所述复合层耦合的互补层,所述复合层与所述互补层之间设置有介质层;所述复合层镂空设置有若干空心圆柱;所述互补层与所述若干空心圆柱实心部分对应的位置处均呈镂空状。本发明通过调节结构参数和选择材料种类,使得所述复合层与所述互补层发生耦合,从而在微波波段实现器件对入射电磁波反射的影响,并通过改变所述复合层中引用的材料二氧化钒的电导率,使得所述非厄米超表面在两个不同频率点处均出现了奇异点,实现了非厄米超表面的调控,有效拓宽了非厄米超表面的应用范围,更有利于实现非厄米超表面的功能化、器件化集成应用。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
一种基于深度图网络分析的发酵过程软测量方法
当前第 / 件
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