发明专利 已授权

一种检测量子点电场效应的方法

📄 申请号:CN202111398468.7 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2021-11-19
公开号
CN114137324A
公开日
2022-03-04
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

量子点器件, 光电器件, 纳米材料表征, 半导体测试, 量子点显示技术

摘要

本发明公开了一种检测量子点电场效应的方法。本发明方法首先制作检测芯片:透明材料的基底上具有两根平行设置的电极。将量子点溶液直接涂覆到两个电极之间的芯片表面;激光源发出的激发光通过聚光镜聚集在一起,垂直射入芯片的量子点溶液涂层;电源的正负极分别连接两个引脚,通过两个电极对快速检测量子点电场效应的芯片加载电场;透过芯片的激发光利用聚光镜将光线聚集,通过光谱仪在芯片背面测量量子点对入射光的吸收谱线,获得量子点的电场效应。本发明方法的检测芯片的结构简单,易于制作,并且芯片可以循环利用,进而降低了检测成本,提高了测量效率。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01R29_14)

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:22 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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