本发明公开了一种检测量子点电场效应的方法。本发明方法首先制作检测芯片:透明材料的基底上具有两根平行设置的电极。将量子点溶液直接涂覆到两个电极之间的芯片表面;激光源发出的激发光通过聚光镜聚集在一起,垂直射入芯片的量子点溶液涂层;电源的正负极分别连接两个引脚,通过两个电极对快速检测量子点电场效应的芯片加载电场;透过芯片的激发光利用聚光镜将光线聚集,通过光谱仪在芯片背面测量量子点对入射光的吸收谱线,获得量子点的电场效应。本发明方法的检测芯片的结构简单,易于制作,并且芯片可以循环利用,进而降低了检测成本,提高了测量效率。
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📂 G01R29_14
👤 浙江工业大学
📅 2021-11-19