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发明专利
已授权
静电可控磨粒流加工去除量检测装置与检测方法
📄 申请号:CN201910077014.6
📄 发布日:2026/08/04
著录项目信息
申请日
2019-01-27
公开号
CN109551375B
公开日
2024-01-12
申请人
浙江工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
B24C1_08
IPC 分类号
B24C1_08
,
B24C9_00
,
G01N15_10
,
G06F30_17
,
G06F30_20
,
G06F119_14
,
技术画像
所属领域
检测装置
磨粒流加工
去除量检测
静电控制技术
检测装置
应用场景
精密加工, 模具抛光, 工业自动化, 智能制造, 表面处理
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摘要
本发明公开了一种静电可控磨粒流加工去除量检测装置及检测方法,包括磨粒流加工装置、法拉第筒法系统和显微可视化系统,所述磨粒流加工系统包括高压静电发生器、配模吸附平台、外加电场、磨粒流和工件,工件通过配模吸附平台进行固定,磨粒流经过高压静电发生器后发射到工件表面进行磨粒流加工,外加电场直接加载在整个配模吸附平台和工件上;本发明提出适用于电荷尖端聚集效应的静电可控磨粒流加工方法经验预测模型方程,通过法拉第筒系统设计解决了磨粒的带电电荷量测量的相关,为选择合适磨粒与工件的切削作用力提供理论依据。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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当前第 / 件
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