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纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法

Name: 纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法
Brand: 西南大学
SKU: 2024112862262
Availability: InStock

📄 申请号：CN202411286226.2 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2024-09-13

公开号

CN119044009B

公开日

2025-02-25

申请人

西南大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N15_00

IPC 分类号

G01N15_00 , G01N15_08 , G01N27_00 ,

技术画像

所属领域

颗粒表征技术颗粒表征技术表面化学分析纳米材料

应用场景

材料分析, 纳米材料表征, 胶体与分散体研究, 颗粒质量控制

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摘要

本发明涉及纳微米颗粒的性能测定领域，具体涉及一种纳微米带电颗粒比表面积和表面电荷密度的联合测定方法：制备H+饱和样；选定两种指示离子#imgabs0#对应的阴离子分别为Cl‑，A和B分别为K+、Na+、Ca2+中的任意两种离子；测定平衡体系中指示离子的活度；计算平衡体系中指示离子的浓度；计算指示离子#imgabs1#在纳微米颗粒表面的吸附量：计算纳微米颗粒表面电位；计算颗粒的表面电荷密度；获得颗粒的比表面积。本发明在颗粒表面的离子交换达到平衡时，只需测定平衡溶液中两种指示离子的浓度，就可直接计算颗粒的比表面积和表面电荷密度。

常见问题

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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