发明专利已授权

物质表面性质参数分析系统

📄 申请号：CN200810232897.5 📄 发布日：2026/08/04

著录项目信息

申请日

2008-10-20

公开号

CN101393239A

公开日

2009-03-25

申请人

西南大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R19_00

IPC 分类号

G01R19_00 , G01R29_24 , G01R19_08 , G01R29_12 , G01N33_00 ,

技术画像

所属领域

表面分析技术表面分析技术图像识别光学检测技术

应用场景

材料检测, 工业质量检测, 实验室分析, 表面处理工艺监控, 涂层性能评价

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摘要

本发明公开了一种物质表面性质参数分析系统，能对物质表面电位进行准确测定，本发明的测定系统包括样品处理装置和检测系统，所述样品处理装置包括样品容纳装置，用以容纳被测物及液体，还设置与样品容纳装置连通的进液管和出液管，其中出液管与恒流泵连接，样品容纳装置内还设有搅拌装置；检测系统包括：离子活度检测装置、离子浓度运算模块以及表面参数运算模块，表面参数运算模块接收离子浓度运算模块的运算出的离子浓度值，分析出被测物表面电位，在进一步的技术方案中，还可依次分析出被测物的表面电荷总量、表面电荷密度、表面电场强度和比表面积，实现物质表面性质参数的联合分析。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种基于混沌激光熵源的高速物理随机数发生器

当前第 / 件

一种基于级联调制光注入半导体激光器产生平坦宽带微波频率梳的装置及方法

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