本发明公开了一种物质表面性质参数分析系统,能对物质表面电位进行准确测定,本发明的测定系统包括样品处理装置和检测系统,所述样品处理装置包括样品容纳装置,用以容纳被测物及液体,还设置与样品容纳装置连通的进液管和出液管,其中出液管与恒流泵连接,样品容纳装置内还设有搅拌装置;检测系统包括:离子活度检测装置、离子浓度运算模块以及表面参数运算模块,表面参数运算模块接收离子浓度运算模块的运算出的离子浓度值,分析出被测物表面电位,在进一步的技术方案中,还可依次分析出被测物的表面电荷总量、表面电荷密度、表面电场强度和比表面积,实现物质表面性质参数的联合分析。
📄 2008102328975
📂 G01R19_00
👤 西南大学
📅 2008-10-20