发明专利 已授权

三轴数控机床的Z向线性位移与误差测量方法及系统

📄 申请号:CN202110070943.1 📄 发布日:2026/08/04

著录项目信息

申请日
2021-01-19
公开号
CN112902848A
公开日
2021-06-04
申请人
重庆理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

数控机床加工, 精密制造, 工业自动化, 在线检测, 智能制造

摘要

本发明涉及三轴数控机床的Z向线性位移与误差测量方法及系统,安装芯棒与光学位移传感器等测量装置:初始化光学位移传感器,至少测量两组数据,并且每组数据按如下方式测量:控制机床主轴带动芯棒按设定位移量进行Z向移动后,控制机床主轴带动芯棒以转速S进行旋转,旋转周期n>3;在芯棒旋转过程中,光学位移传感器测量自身到所述测量面的距离,每个旋转周期内测量x个数据,每组数据的数据量为n×x个;根据每组数据的周期性波动特征,采用平均法消除每组数据的测量误差,从而计算出误差消除后的光学位移传感器到测量面之间的距离,即修正距离;采用两组数据分别对应的两个修正距离作差以计算出芯棒的运动位移量,以运动位移量作为Z向线性位移测量值。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:11 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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