发明专利已授权

一种粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法

📄 申请号：CN202210846373.5 📄 发布日：2026/07/29

著录项目信息

申请日

2022-07-19

公开号

CN115201240B

公开日

2024-05-10

申请人

安徽工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_2251

IPC 分类号

G01N23_2251 , G01B15_02 , G01N15_0227 ,

技术画像

所属领域

镀层厚度测量镀层厚度测量镀覆均匀性评价粉末颗粒表征

应用场景

粉末冶金, 表面工程, 电池材料制备, 催化剂载体处理, 增材制造

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摘要

本发明公开了一种粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，属于化学镀和统计学技术领域。本发明的粉末颗粒表面镀层厚度和镀覆均匀性的评价方法，包括以下步骤：分别拍摄得到包覆前后粉末颗粒的多个视场的SEM照片，通过图像分析软件分别统计其粒径分布；计算粉体包覆前后相等累计分布百分比之间的粉体粒径差，并通过数据拟合得出镀层厚度与镀覆前粉体粒径之间的关系；通过所得拟合关系式即可直接对粉末颗粒表面镀层厚度进行计算。本发明采用对微小颗粒大小随机测量和数理统计相结合的方法，通过建立镀覆前后微小颗粒的粒径分布和粒径大小的统计特征，从而可以对镀覆的均匀性和镀覆厚度进行评价。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

一种物料夹取位置检测机构、输送系统以及位置检测方法

当前第 / 件

一种斩波式脉冲供电除尘系统及方法

同领域国内专利 · IPC: (G01N23_2251)

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