发明专利已授权

DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法

📄 申请号：CN202010064113.3 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2020-01-20

公开号

CN111238644B

公开日

2022-02-22

申请人

西安工业大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01J3_45

IPC 分类号

G01J3_45

技术画像

所属领域

干涉光谱分析干涉光谱分析光学干涉测量数字信号处理

应用场景

大气遥感, 天文观测, 光谱测量, 风场测量, 光学干涉测量

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摘要

本发明涉及一种DFDI仪器干涉光谱的白光干扰去除方法，其能够准确解析干涉条纹的相位信息，并能够准确测量所观测恒星的视向速度。包括以下步骤：步骤1：根据光谱波数范围Δk，确定在波数方向上离散采样点总数N和探测器沿色散方向的采样率kint＝Δk/N；步骤2：根据公式(12)确定仪器中固定延迟干涉仪模块的光程差d，选取最大值1/2kint；步骤3：对仪器获取的二维干涉光谱，沿波数方向进行傅里叶变换，将干涉信息转换到频域空间；步骤4：在频域空间，通过利用带通或高通滤波，滤除白光导致的干涉条纹信息S1的±d频率项；步骤5：对经过滤波后的干涉光谱频域信息，再进行傅里叶逆变换，获得由恒星吸收线导致的摩尔条纹S2。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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议价

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📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：26 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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