发明专利 已授权

一种打孔法测试圆柱形样品导热系数的方法

📄 申请号:CN202010348174.2 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2020-04-28
公开号
CN111474204B
公开日
2023-04-28
申请人
西安工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

工业质量检测, 材料导热性能评估, 科研实验测试, 节能材料评价, 热管理产品检测

摘要

本发明公开了一种打孔法测试圆柱形样品导热系数的方法,如下:步骤S11、选取待测样品和A、B两个已知不同导热系数的基准样品,将三者加工成直径和高度均相等的圆柱体;步骤S12、在各圆柱体的侧壁上均径向加工两个测温孔;步骤S13、采用平板稳态法中的导热系数测试仪,分别测量并计算待测样品和A、B基准样品的导热系数测试值;步骤S14、采用线性插值的方法,估算出待测样品的真实导热系数λ*。上述一种打孔法测试圆柱形样品导热系数的方法,实现了利用普通稳态导热测试设备,对小型非标圆柱体样品的导热系数进行测试。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

议价
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