发明专利 已授权

基于七孔径的稀疏合成孔径成像系统及其相位校正方法

📄 申请号:CN202110778957.9 📄 发布日:2026/07/23

著录项目信息

申请日
2021-07-09
公开号
CN113534436B
公开日
2023-05-23
申请人
西安工业大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

高分辨率成像, 遥感观测, 天文观测, 光学成像, 雷达探测

摘要

本发明涉及高分辨率光学成像技术领域,具体涉及一种基于七孔径的稀疏合成孔径成像系统及其相位校正方法。可用于提高系统的成像分辨能力,并有效减少共相误差对成像系统的影响。本发明由合束光学系统以及图像采集系统组成,经过平行光管的反射光波经子孔径阵列后,通过相位校正系统完成倾斜误差和平移误差的校正,对每个子孔径进行相位闭环校正,实现七路成像光波共相位,最后成像光波经过光束合束系统以及图像采集系统实现高分辨率成像。本发明结构简单紧凑且能有效实现相位误差的校正功能,环境适应性强,在准确性和实时性方面相较同类系统有所改善。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G02B23_02)

议价
不含过户费

📋 交易方式: 委托待转让 📌 交易状态: 在售 👁️ 浏览次数:29 ❤️ 收藏人数:93 📋 项目申报: 未申报

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