发明专利已授权

一种基于π相移方法的三维面形垂直测量方法

Name: 一种基于π相移方法的三维面形垂直测量方法
Brand: 成都信息工程大学
SKU: 2018116229485
Availability: InStock

📄 申请号：CN201811622948.5 📄 发布日：2026/07/23

著录项目信息

申请日

2018-12-28

公开号

CN109631798B

公开日

2021-03-12

申请人

成都信息工程大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25

技术画像

所属领域

光学测量光学测量三维形貌测量相位测量

应用场景

工业检测, 精密制造, 表面质量检测, 逆向工程, 科研实验

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摘要

本发明公开了一种基于π相移方法的三维面形垂直测量方法，其特征在于扫描过程中的每一位置处采集两幅条纹图，两者相减并作傅立叶变换；选取适当的滤波窗提取基频信息，计算出该位置处的调制度分布，进而利用调制度和高度的对应关系重建物体三维面形。该方法不仅避免了传统相移技术拍摄图像数目多的问题，相移不准确等问题，同时还消除了零频对基频信息的影响，有效地避免了傅里叶变换方法中因频谱混叠而出现的基频无法正确提取等问题，在三维面形轮廓术以及机器视觉等领域的应用具有重要的意义和广阔的应用前景。同时所设计的结构光栅能够实现光栅在投影方向精确地进行π相移操作，有效避免传统相移技术相移不准确等问题。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN109631798B

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该专利的转让价格是多少？

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权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20210312

✅ 授权

20190510

?? 实质审查的生效：

一种基于超立方格树的气象资料索引及可视化分析方法

当前第 / 件

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