发明专利 已授权

一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法

📄 申请号:CN202110779132.9 📄 发布日:2026/07/09

著录项目信息

申请日
2021-07-09
公开号
CN113628674B
公开日
2023-08-18
申请人
杭州电子科技大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

应用场景

数据中心, 企业级存储, 存储系统可靠性

摘要

本发明公开了一种RAIM构架SSD中故障eMMC定位方法,包括S1,测试若干个SSD盘,选出故障盘,并记录故障RCA;S2,对故障盘中每一个eMMC进行编号,并格式化故障盘;S3,测试正常盘不同工作状态下的色温,作为故障检测对比标准;S4,选中S1中非故障的RCA,写入数据,获取红外成像图;S5,观测红外成像图,得到正常工作的eMMC对应的S4中RCA;S6,重复S4和S5,测试正常SSD盘上所有非故障的RCA对应的eMMC是否是正常颗粒。本发明利用红外技术定位故障颗粒,通过对比正常工作的eMMC和故障eMMC对外部温度环境的影响,利用红外成像图直接判断。
权利要求书 (12项) 说明书 附图

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图1
图2
图3

法律状态时间线

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