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发明专利
已授权
高表面反射的散射性混色材料中各单色材料厚度或质量的光学测量方法
📄 申请号:CN202211105407.1
📄 发布日:2026/06/16
著录项目信息
申请日
2022-09-09
公开号
CN116255915B
公开日
2025-07-18
申请人
浙江理工大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
G01B11_06
IPC 分类号
G01B11_06
,
G01N21_31
,
技术画像
所属领域
光学测量
光学测量
光谱分析
材料检测
应用场景
工业材料检测, 涂层质量测量, 颜料混色控制, 材料科学研究, 表面光学特性分析
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摘要
本发明公开了高表面反射的散射性混色材料中各单色材料厚度或质量的光学测量方法,包括步骤1获得混色前各单色材料的透光强度与光通量之间的关系、步骤2构建混色材料中各单色材料的厚度或质量与混色材料的总光通量之间的关系的混色方程组以及步骤3计算不同浓度下混色材料中各单色材料的厚度或质量,所涉及的光学模型可将材料的反射当作内部散射,降低了因材料表面反射对分色模型的效果,实现了表面反射影响较大时不同浓度下的强散射混色材料中各单色材料的厚度或质量计算。
权利要求书 (12项)
说明书
附图
……
……
图1
图2
图3
法律状态时间线
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当前第 / 件
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📌 交易状态:
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