发明专利已授权

一种线结构光测量渐开线齿面的最佳入射姿态确定方法

📄 申请号：CN202210597423.0 📄 发布日：2026/06/16

著录项目信息

申请日

2022-05-27

公开号

CN115014243B

公开日

2025-05-27

申请人

浙江理工大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_25

IPC 分类号

G01B11_25 , G06F30_20 ,

技术画像

所属领域

线结构光测量光学测量齿轮检测测量姿态优化线结构光测量

应用场景

齿轮加工检测, 工业计量, 自动化测量, 精密制造

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摘要

本发明公开了一种线结构光测量渐开线齿面的最佳入射姿态确定方法，包括：根据测量需求设计线结构光三维测量仪器，基于数字孪生技术构建数字孪生模型；测量线结构光三维测量仪器的误差信息，建立误差体系；构建镜面反射特性分析算法，不考虑齿面粗糙度地映射镜面反射作用；构建粗糙度作用下的漫反射特性分析算法，映射漫反射作用；基于误差体系下的数字孪生模型，根据镜面反射作用和漫反射作用，以不同角度模拟针对线结构光的反射特性；利用成像质量评价方法对各角度进行成像评价，确定最佳入射姿态并调整线结构光三维测量仪器。通过本发明的技术方案，能够确定线结构光的最佳入射姿态，从而迭代优化调整线结构光三维测量仪器的测量姿态。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

具有动态荧光特性的核壳荧光聚合物粒子及其制备方法

当前第 / 件

钴基金属-氢键-有机框架材料在检测pH值中的应用

同领域国内专利 · IPC: (G01B11_25)

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