发明专利 已授权

一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法

📄 申请号:CN202010172384.0 📄 发布日:2026/09/09

著录项目信息

申请日
2020-03-12
公开号
CN111238390B
公开日
2021-08-17
申请人
燕山大学
法律状态
已下证
专利类型
发明
主分类号
IPC 分类号

技术画像

所属领域

应用场景

金属深孔加工, 工业质量检测, 机械制造, 无损探伤, 管道检测

摘要

本发明涉及一种检测金属深孔微弯的探测器及其方法,该探测器包括传感器组件和连接在传感器组件输入端的光开关,以及连接在光开关输入端的环形器,所述环形器的输入端连接有宽带光源,所述环形器的另一个输出端与耦合器的输入端连接,且所述耦合器的输出端分别与光功率计和解调仪的输入端连接。本发明提出的检测方法采用F‑P干涉原理,其中光纤端面与金属深孔内壁构成F‑P腔结构,利用峰值检波的方法解调出F‑P腔长与自由谱宽之间的关系,确定了金属深孔内壁与传感探测器之间的距离,该精度可达μm量级,能够精准判断金属深孔的微弯程度及位置,具有非常理想的技术效果。

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图1
图2
图3

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