发明专利已授权

在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法

📄 申请号：CN201710146128.2 📄 发布日：2026/05/07

著录项目信息

申请日

2017-03-13

申请人

燕山大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01N23_20

IPC 分类号

G01N23_20

技术画像

所属领域

透射电子显微镜透射电子显微术晶体取向分析材料表征与测试电子显微镜透射电子显微镜

应用场景

材料微观结构分析, 晶体缺陷表征, 材料失效分析, 半导体器件研发

AI 智能推荐 · 同申请人专利 · 搜索相似专利

摘要

本发明涉及一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法。该方法包含两个部分：第一、利用透射电镜双倾技术采集晶粒特定菊池线；第二、提出一种计算相邻晶粒之间取向差的新方法。步骤为：使用双倾样品杆把待测区域的中心晶粒倾转到特定的晶带轴，并采集该晶粒的菊池线；然后在相同的条件下采集与之相邻的晶粒的菊池线，叠加采集的菊池线，测量参数；最后采用公式cosΘ＝(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒之间的位向差。本发明具有操作简单、计算便捷、精度高等优点。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

20190222

✅ 授权

20170630

?? 实质审查的生效：

20170606

📄 公开

一种基于异形螺杆的连续物料暂时停顿装置

当前第 / 件

一种电磁-静压双悬浮推力轴承

同领域国内专利 · IPC: (G01N23_20)

G01N23_00 G01N23_02 G01N23_04 G01N23_041 G01N23_046 G01N23_05 G01N23_08 G01N23_083 G01N23_18 G01N23_20 G01N23_20008 G01N23_20025 G01N23_203 G01N23_2055 G01N23_207 G01N23_22 G01N23_2202 G01N23_2204 G01N23_2206 G01N23_223 G01N23_2251 G01N23_2252 G01N23_227 G01N23_2273 覆盖24个领域

议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：86 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

资金托管权属尽调包过户

🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

✓ 企业认证✓ 手机绑定历史成交 0件好评率 98.5%

📊 出价记录 (3条)

王**¥-10万

李** 企业¥-8万

陈**¥-3万

查看全部出价

我要出价 (议价)

在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法

著录项目信息

技术画像

所属领域

应用场景

摘要

法律状态时间线

同领域国内专利 · IPC: (G01N23_20)

相似专利推荐 AI 驱动 · 同领域

一种连续调节金纳米颗粒表面粗糙度的化学合成方法

一种高比电容的碳化蚕丝

一种绿色荧光蛋白标记重组虹彩病毒的构建及其应用

服务项目

资源中心

关于柿子坊