发明专利已授权

一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法

📄 申请号：CN201911287507.9 📄 发布日：2026/05/07

著录项目信息

申请日

2019-12-14

公开号

CN110986790A

公开日

2020-04-10

申请人

燕山大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01B11_02

IPC 分类号

G01B11_02 , G01N23_04 , G01N23_20 ,

技术画像

所属领域

透射电镜表征透射电镜表征晶体结构分析孪晶测量

应用场景

材料微观结构表征, 晶体学研究, 金属材料性能分析, 半导体材料检测, 失效分析

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摘要

本发明提供一种在透射电镜中测量面心立方晶体样品里孪晶面宽度的方法，包括如下步骤：步骤一、建立面心立方晶体样品里孪晶面的第一模型，所述第一模型是根据投影几何获得的；步骤二、将面心立方透射电镜样品放入电镜后，查找含有孪晶组织的薄区，将所检测晶粒倾转到<110>晶带轴；步骤三：调节放大倍数，采集孪晶面的投影图像，包括明场图像和暗场图像，并从图像中测量出孪晶面的投影宽度；步骤四：将步骤三中测量的孪晶面的投影宽度值代入第一模型中，确定透射样品中孪晶面的实际宽度。本发明操作简单，仅仅需要将样品倾转到低指数的<110>晶带轴；计算公式简洁，能够在透射电镜测试过程中快速计算出所孪晶面的实际宽度；不用加装硬件和软件即可测量。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

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当前第 / 件

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：66 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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