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用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

Name: 用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器
Brand: 杭州电子科技大学
SKU: 2019103891566
Availability: InStock

📄 申请号：CN201910389156.6 📄 发布日：2026/08/24

著录项目信息

申请日

2019-05-10

公开号

CN110133375B

公开日

2021-05-07

申请人

杭州电子科技大学

法律状态

已下证

专利类型

发明

主分类号

G01R27_26

IPC 分类号

G01R27_26 , G01R33_12 ,

技术画像

所属领域

其他分类其他

应用场景

材料检测, 电子材料测试, 微波无损检测, 科研实验, 高频器件测试

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摘要

本发明公开用于同步测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器。由顶层至底层包括两个微带线结构、介质层、金属薄片、两个刻槽金属CSRR结构；刻槽金属CSRR结构由内外槽环构成，内外槽环均设有一个开口，且开口朝向均相同；内外槽环开口相对的两直角均对齐内折，外槽环的开口向环内外延伸构成槽沟，其中外槽环开口槽沟之间的部分为磁场强度最大区域，该区域放置待测样品用于测量样品磁导率；内外槽环两个内折直角相接的槽沟之间的部分为电场强度最大区域，该区域放置待测样品用于测量样品介电常数；本发明采用了差分结构的形式，对介电常数和磁导率可做差分测量，采用相对测量的方式排除了环境因素的影响。

常见问题

这项专利是否已经下证？

是的，该专利已下证，法律状态为“已下证”，公开号： CN110133375B

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该专利的转让价格是多少？

当前标价为议价，可委托平台代购或预约谈判。

权利要求书 (12项) 说明书附图

……

图1

图2

图3

法律状态时间线

用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

当前第 / 件

用于测量磁介质材料介电常数和磁导率的微波传感器

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议价

不含过户费

📋 交易方式： 委托待转让 📌 交易状态：在售 👁️ 浏览次数：14 ❤️ 收藏人数：93 📋 项目申报： 未申报

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🏢 淄博智来知识产权服务有限公司

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